波長色散x熒光光譜儀

波長色散X熒光光譜儀（WD-XRF）是一種基于X射線熒光原理進行物質成分分析的**科學儀器。
它利用原級X射線或其他光子源作為激發源，照射待測物質中的原子，使其內殼層電子被激發并躍遷**能級，隨后這些高能級電子回落到低能級時，會釋放出具有特定波長的X射線熒光，即次級X射線。
這些特征X射線熒光攜帶著待測元素的種類及含量信息，通過波長色散型光譜儀的分光系統，可以將不同波長的X射線熒光分離，再由探測器系統測量其強度，進而實現元素的定性和定量分析。
波長色散X熒光光譜儀由多個關鍵部件組成，包括X射線管激發源、分光系統、探測器系統、真空系統和氣流系統等。
其中，分光系統通常采用晶體分光技術，根據分析晶體的聚焦幾何條件不同，分為非聚焦反射平晶式、半聚焦反射彎晶式、全聚焦反射彎晶式等多種類型。
這些不同類型的分光系統能夠滿足不同元素和不同分析需求的高精度測量。
波長色散X熒光光譜儀在分析速度、準確性、適用范圍等方面具有顯著優勢。
它能夠在短時間內完成樣品中多種元素的測定，通常2至5分鐘即可測完樣品中的全部待測元素。
同時，該儀器不受樣品化學結合狀態和物質形態的限制，可用于固體、粉末、液體等多種形態的樣品分析，分析范圍廣泛，涵蓋了從Be到U的所有化學元素。
此外，波長色散X熒光光譜儀還具有非破壞性分析的特點，在測定過程中不會引起樣品化學狀態的改變，也不會出現樣品飛散現象，因此同一樣品可以反復多次測量，結果重現性好。
這種儀器在地球科學、化學工程、材料科學、冶金工程技術等多個領域得到了廣泛應用，為科研工作者提供了強有力的分析手段。